BRIAN BAILEYさんのBalancing The Cost Of Testという記事。
ここでのTestとは、チップの欠陥を見つけるための出荷テストのこと。
検証というお仕事だけでは、そこまで考えないかもしれませんが、
製品の搭載した後に、チップ内の欠陥で正しく動かないのでは困る。
製品の搭載した後に、チップ内の欠陥で正しく動かないのでは困る。
ATPGで自動的にテストパターンを生成できるが、
すべてのノードをテストするパターンを作るにはほぼ不可能。
ここでもStuckを98%から1.5%上げて99.5%にするのに、ATPGのパターンが2倍になると。
すべてのノードをテストするパターンを作るにはほぼ不可能。
ここでもStuckを98%から1.5%上げて99.5%にするのに、ATPGのパターンが2倍になると。
そこでテストのことを考えたDFTをやろう！となるが、
Cベースから生成されるRTLがそこまで考えて生成してくれているか？
Cベースから生成されるRTLがそこまで考えて生成してくれているか？
チップのコストよりもテストのコストが高くなるんだったら、
最初からテストを考えないといけないんだけど、。。。困った。
最初からテストを考えないといけないんだけど、。。。困った。
検証、Verification
